Test parameter processing method and device, tester, and computer storage medium

Procédé et dispositif de traitement de paramètre de test, testeur, et support de stockage informatique

测试参数处理方法、装置、测试器和计算机存储介质

Abstract

Disclosed are a test parameter processing method and device, a tester, and a computer storage medium. The method comprises: determining a test distance between a position where a test event is located, and the tester; determining, according to the test distance, a pulse width launched by the tester for testing the test event; and determining a test parameter of the tester according to the test distance, the pulse width, and a predetermined rule for determining the test parameter of the tester.
L'invention concerne un procédé et un dispositif de traitement de paramètre de test, un testeur, et un support de stockage informatique. Le procédé consiste à : déterminer une distance de test entre une position dans laquelle se trouve un événement de test, et le testeur ; déterminer, d'après la distance de test, une largeur d'impulsion lancée par le testeur pour tester l'événement de test ; et déterminer un paramètre de test du testeur d'après la distance de test, la largeur d'impulsion et une règle prédéterminée pour déterminer le paramètre de test du testeur.
本发明实施例公开了一种测试参数处理方法、装置、测试器和计算机存储介质,该方法包括:确定测试事件所在位置与测试器之间的测试距离;根据所述测试距离,确定所述测试器发射的用于对所述测试事件进行测试的脉宽;根据所述测试距离、所述脉宽、以及用于确定所述测试器的测试参数的预定规则,确定所述测试器的测试参数。

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